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VT6000太陽能電池片形貌共聚焦測量顯微鏡結(jié)合精密縱向掃描，在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點，從而重建出3D真彩圖像進行分析。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦光學系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學系統(tǒng)為基礎(chǔ)，基于光學共軛共焦原理，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法，共同組成高精度測量系統(tǒng)。能在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析。

VT6000微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡基于光學共軛共焦原理，以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學系統(tǒng)為基礎(chǔ)，能在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

中圖儀器VT6000材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，可以獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量。

在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，納米材料表征共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它基于光學共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像。

中圖儀器VT6000共聚焦光學測量顯微鏡?是基于光學共軛共焦原理，以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。